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      光學元件反射率測量儀

      品 牌:標旗

      產 地:國產

      型 號:Sphere-3000

      關鍵詞標簽:光學元件反射率測量儀
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      Sphere-3000 光學元件反射率測量儀

      Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀,能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

      Sphere3000光學元件反射率測量儀-特點:

      顯微測定微小領域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區域(φ60μm)

      CIE顏色測定  X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等

      檢測速度快  高性能探測器,能在幾秒內實現重現性高的測定

      消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率

      Sphere3000光學元件反射率測量儀-技術參數

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