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      等離子發射光譜儀

      品 牌:賽默飛

      產 地:美國

      型 號:ELEMENT

      關鍵詞標簽:ICP等離子發射光譜儀
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      ELEMENT 系列 ICP-MS

      您可以從兩種高性能,雙聚焦扇形磁場 Thermo Scientific? ELEMENT? 系列 ICP-MS 儀器中選擇,這些儀器針對易用性、穩定性和分析效率進行了優化。ELEMENT 2? ICP-MS 提供強大的技術來解決特定問題,同時具備優異的靈敏度和信噪比。Thermo Scientific ELEMENT XR? ICP-MS 結合法拉第檢測器與雙模式 SEM 檢測器將 ELEMENT 2 ICP-MS 的線性動態范圍擴展了三個數量級。

      描述

      在痕量元素定量分析方面,ICP-MS 最嚴重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質量數分辨率是消除這些干擾的金標準,可在痕量水平上準確可靠地進行多元素定量分析,樣品制備步驟極為簡便。

      多元素分析

      多元素檢測器可處理瞬變信號,包括 HPLC、GC 和激光消融。

      元素周期表中的無干擾測量涵蓋基質組分(mg?L-1)和超痕量元素(低于 1 pg?L-1)。

      最高靈敏度 ICP-MS(低分辨率時)。

      靈活性和可用性

      高質量數分辨率可獲取譜干擾同位素,生成清晰的元素譜

      對無干擾或受干擾同位素進行高精度同位素比分析。

      熱等離子體和冷等離子體狀態。

      ELEMENT XR ICP-MS

      寬線性動態檢測范圍對于 ICP-MS 來說至關重要,因為其允許通過單次運行分析較寬的濃度范圍。

      集成式法拉第檢測器的特性:

      采樣時間低至 1 ms。

      測量高強度峰后無需衰減時間

      SEM 和法拉第之間自動切換,延遲時間為 <1 ms。

      不同檢測器模式之間的線性交叉范圍較寬(>2 個數量級),允許準確進行自動交叉校正。

      動態范圍為 0.2 cps(SEM)到 >1 x 1012 cps(法拉第)。


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